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Online Multiple Fault Detection in Reversible Circuits

Zamani, M.; Farazmand, N.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-7695-4243-0
KITopen-ID: 1000028074
Erschienen in Proceedings 2010 25th International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems DFT 2010 6-8 October 2010, Kyoto, Kyoto, Japan. Ed.: H. Ito
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 429 - 437
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