Online Multiple Fault Detection in Reversible Circuits
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-7695-4243-0 KITopen-ID: 1000028074 |
| Erschienen in | Proceedings 2010 25th International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems DFT 2010 6-8 October 2010, Kyoto, Kyoto, Japan. Ed.: H. Ito |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 429 - 437 |