Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2010 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-4244-7205-5 KITopen-ID: 1000028076 |
Erschienen in | Proceedings International Test Conference 2010, 2-4 Nov. 2010, Austin, Texas USA. Ed.: R. Press |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Seiten | 1 - 9 |