KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Multiple fault diagnosis in crossbar nano-architectures

Farazmand, N.; Tahoori, M. B:



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-5835-6
KITopen-ID: 1000028077
Erschienen in 15th IEEE European Test Symposium (ETS), May 24-28, 2010, Prague, Czech Republic, USB Proceedings. Ed.: O. Novak
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 94 - 99
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page