Multiple fault diagnosis in crossbar nano-architectures
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4244-5835-6 KITopen-ID: 1000028077 |
| Erschienen in | 15th IEEE European Test Symposium (ETS), May 24-28, 2010, Prague, Czech Republic, USB Proceedings. Ed.: O. Novak |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 94 - 99 |