A transient error tolerant self-timed asynchronous architecture
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4244-5833-2 KITopen-ID: 1000028078 |
| Erschienen in | 2010 15th IEEE European Test Symposium (ETS), May 24-28, 2010, Prague, Czech Republic, USB Proceedings. Ed.: O. Novak |
| Verlag | IEEE Computer Society |
| Seiten | 88-93 |