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On-the-fly variation tolerant mapping in crossbar nano-architectures

Tunc, C.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-6648-1
KITopen-ID: 1000028079
Erschienen in 2010 28th IEEE VLSI Test Symposium, 19-22 April 2010 Santa Cruz, CA, USA. Ed.: M. Abadir
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 105 - 110
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