On-the-fly variation tolerant mapping in crossbar nano-architectures
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4244-6648-1 KITopen-ID: 1000028079 |
| Erschienen in | 2010 28th IEEE VLSI Test Symposium, 19-22 April 2010 Santa Cruz, CA, USA. Ed.: M. Abadir |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 105 - 110 |