Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
Publikationsjahr | 2009 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISSN: 0026-2714 KITopen-ID: 1000028081 |
Erschienen in | Journal of Microelectronics Reliability |
Verlag | Elsevier |
Band | 49 |
Heft | 5 |
Seiten | 551-557 |
Nachgewiesen in | Web of Science Scopus Dimensions |