| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0026-2714 KITopen-ID: 1000028081 |
| Erschienen in | Journal of Microelectronics Reliability |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 49 |
| Heft | 5 |
| Seiten | 551-557 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Scopus Dimensions Web of Science |