Identification of Critical Molecules via Fault Diagnosis Engineering
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4244-3296-7 KITopen-ID: 1000028085 |
| Erschienen in | 31st Annual International Conference of the IEEE EMBS, Minneapolis, Minnesota, USA, September 2-6, 2009. Ed.: B. He |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 4898 - 4901 |