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Identification of Critical Molecules via Fault Diagnosis Engineering

Abdi, A.; Tahoori, M. B.; Emamian, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-3296-7
KITopen ID: 1000028085
Erschienen in 31st Annual International Conference of the IEEE EMBS, Minneapolis, Minnesota, USA, September 2-6, 2009. Ed.: B. He
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 4898 - 4901
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