Transient Error Detection and Recovery in Processor Pipelines
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-7695-3839-6 KITopen-ID: 1000028089 |
| Erschienen in | Proceeding DFT '09 Proceedings of the 2009 24th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems. Ed.: D. Gizopoulos |
| Verlag | IEEE Computer Society |