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Transient Error Detection and Recovery in Processor Pipelines

Shazli, S.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-7695-3839-6
KITopen-ID: 1000028089
Erschienen in Proceeding DFT '09 Proceedings of the 2009 24th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems. Ed.: D. Gizopoulos
Verlag IEEE Computer Society, Washington
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