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ScTMR: A scan chain-based error recovery technique for TMR systems in safety-critical applications

Ebrahimi, M.; Miremadi, S. G.; Asadi, H.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9810801-7-9
KITopen-ID: 1000028090
Erschienen in Proceedings Design, Automation & Test in Europe, Grenoble, France, March 14-18, 2011. Ed.: K. Preas
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1 - 4
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