Layout-Driven Robustness Analysis for Misaligned Carbon Nanotubes in CNTFET-based Standard Cells
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-9810801-8-6 KITopen-ID: 1000028091 |
| Erschienen in | Proceedings Design, Automation & Test in Europe, Dresden, Germany, March 12-16, 2012. Ed.: K. Preas |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1609 - 1614 |