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Layout-Driven Robustness Analysis for Misaligned Carbon Nanotubes in CNTFET-based Standard Cells

Beste, M.; Tahoori, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9810801-8-6
KITopen ID: 1000028091
Erschienen in Proceedings Design, Automation & Test in Europe, Dresden, Germany, March 12-16, 2012. Ed.: K. Preas
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1609 - 1614
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