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Dynamic Soft Error Hardening via Joint Body Biasing and Dynamic Voltage Scaling

Firouzi, F.; Yazdanbakhsh, A.; Doroosti, H.; Fakhraie, S. M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-7695-4494-6
KITopen ID: 1000028097
Erschienen in Proceedings 2011 14th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools DSD 2011, 31 August-2 September 2011, Oulu, Finland. Ed.: P. Kitsos
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 385 - 392
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