Dynamic Soft Error Hardening via Joint Body Biasing and Dynamic Voltage Scaling
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-7695-4494-6 KITopen-ID: 1000028097 |
| Erschienen in | Proceedings 2011 14th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools DSD 2011, 31 August-2 September 2011, Oulu, Finland. Ed.: P. Kitsos |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 385 - 392 |