An Accurate Model for Soft Error Rate Estimation Considering Dynamic Voltage and Frequency Scaling Effects
Firouzi, F.; Salehi, M. E.; Wang, F.
; Fakhraie, S. M.
; Fakhraie, S. M.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0026-2714 KITopen-ID: 1000028098 |
| Erschienen in | Journal of Microelectronics Reliability |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 51 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 460-467 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |