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An Accurate Model for Soft Error Rate Estimation Considering Dynamic Voltage and Frequency Scaling Effects

Firouzi, F.; Salehi, M. E.; Wang, F.; Fakhraie, S. M.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.microrel.2010.08.016
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Zitationen: 20
Web of Science
Zitationen: 12
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0026-2714
KITopen-ID: 1000028098
Erschienen in Journal of Microelectronics Reliability
Band 51
Heft 2
Seiten 460-467
Nachgewiesen in Web of Science
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