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Reliability-Aware Dynamic Voltage and Frequency Scaling

Firouzi, F.; Salehi, M. E.; Wang, F.; Fakhraie, S. M.; Safari, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-7695-4076-4
KITopen-ID: 1000028099
Erschienen in PROCEEDINGS IEEE Annual Symposium on VLSI ISVLSI 2010, 5-7 July 2010, Lixouri, Kefalonia, Greece. Ed.: N. Voros
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 304 - 309
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