Reliability-Aware Dynamic Voltage and Frequency Scaling
Firouzi, F.; Salehi, M. E.; Wang, F.
; Fakhraie, S. M.; Safari, S.
; Fakhraie, S. M.; Safari, S.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-7695-4076-4 KITopen-ID: 1000028099 |
| Erschienen in | PROCEEDINGS IEEE Annual Symposium on VLSI ISVLSI 2010, 5-7 July 2010, Lixouri, Kefalonia, Greece. Ed.: N. Voros |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 304 - 309 |