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Reliability considerations in dynamic voltage and frequency scheduling schemes

Firouzi, F.; Salehi, M .E.; Wang, F.; Azarpeyvand, A.; Fakhraie, S. M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-6340-4
KITopen-ID: 1000028100
Erschienen in 2010 International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1-4
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