KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Analysis of single-event effects in embedded processors for non-uniform fault tolerant design

Firouzi, F.; Azarpeyvand, A.; Fakhraie, S. M.; Safari, S.; Ersali Nasab, M. S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 78-1-4244-5700-7
KITopen-ID: 1000028101
Erschienen in International Conference on Innovations in Information Technology, 2009. IIT '09, 15-17 Dec. 2009, Al Ain, UAE.
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 125 - 129
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page