Analysis of single-event effects in embedded processors for non-uniform fault tolerant design

Firouzi, F.; Azarpeyvand, A.; Fakhraie, S. M.; Safari, S.; Ersali Nasab, M. S.

Seitenaufrufe: 41
seit 07.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2009
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 78-1-4244-5700-7 KITopen-ID: 1000028101
Erschienen in	International Conference on Innovations in Information Technology, 2009. IIT '09, 15-17 Dec. 2009, Al Ain, UAE.
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten	125 - 129