Analysis of single-event effects in embedded processors for non-uniform fault tolerant design
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 78-1-4244-5700-7 KITopen-ID: 1000028101 |
| Erschienen in | International Conference on Innovations in Information Technology, 2009. IIT '09, 15-17 Dec. 2009, Al Ain, UAE. |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 125 - 129 |