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Instruction reliability analysis for embedded processors

Salehi, M. E.; Azarpeyvand, A.; Firouzi, F.; Yazdanbakhsh, A.; Fakhraei, S. M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-42-446612-2
KITopen-ID: 1000028103
Erschienen in Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, April 14-16, 2010, Vienna, Austria. Ed.: E. Gramatová
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 20 - 23
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