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Reliability Analysis of Embedded Applications in Non-Uniform Fault Tolerant Processors

Salehi, M. E.; Azarpeyvand, A.; Firouzi, F.; Yazdanbakhsh, A.; Fakhraei, S. M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-6950-5
KITopen-ID: 1000028104
Erschienen in Proceedings 5th International Conference on Future Information Technology, Busan, Korea, 20-24 May 2010. Ed.: S. Panchanathan
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1-5
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