Reliability Analysis of Embedded Applications in Non-Uniform Fault Tolerant Processors

Salehi, M. E.; Azarpeyvand, A.; Firouzi, F.; Yazdanbakhsh, A.; Fakhraei, S. M.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-1-4244-6950-5 KITopen-ID: 1000028104
Erschienen in	Proceedings 5th International Conference on Future Information Technology, Busan, Korea, 20-24 May 2010. Ed.: S. Panchanathan
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten	1-5