A new block-based SSTA method considering within-die variation
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4244-7808-8 KITopen-ID: 1000028105 |
| Erschienen in | Proceedings of the Sceond Asia Symposium on Quality Electronic Design ASQED 2010, August 3-4, 2010, Penang, Malaysia. Ed.: V. Kursun |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 260 - 263 |