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A new block-based SSTA method considering within-die variation

Kiamehr, S.; Ahmadi Mehr, A.; Afzali Kusha, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-7808-8
KITopen-ID: 1000028105
Erschienen in Proceedings of the Sceond Asia Symposium on Quality Electronic Design ASQED 2010, August 3-4, 2010, Penang, Malaysia. Ed.: V. Kursun
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 260 - 263
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