KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Modellbasiertes Testen: Hype oder Realität?

Weißleder, S.; Güldali, B.; Mlynarski, M.; Törsel, A. M.; Farago, D.; Prester, F.; Winter, M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Theoretische Informatik (ITI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0945-0491
KITopen-ID: 1000028139
Erschienen in Objektspektrum
Verlag SIGS DATACOM GmbH
Band 6
Seiten 59-65
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page