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Modellbasiertes Testen: Hype oder Realität?

Weißleder, S.; Güldali, B.; Mlynarski, M.; Törsel, A. M.; Farago, D.; Prester, F.; Winter, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Theoretische Informatik (ITI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0945-0491
KITopen ID: 1000028139
Erschienen in Objekt Spektrum
Band 6
Seiten 59-65
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