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Local analysis of honed surfaces in microscopic images

Wang, Limeng; Puente León, Fernando



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9810993-8-6
KITopen ID: 1000028254
Erschienen in Short Proceedings of the Sensor + Test Conference 2011, Nürnberg, Germany, 7.-9 Juni 2011
Verlag AMA Service GmbH, Wunstorf
Seiten 213
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