Local analysis of honed surfaces in microscopic images
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-9810993-8-6 KITopen-ID: 1000028254 |
| Erschienen in | Short Proceedings of the Sensor + Test Conference 2011, Nürnberg, Germany, 7.-9 Juni 2011 |
| Verlag | AMA Service |
| Seiten | 213 |