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Testing Planarity of Partially Embedded Graphs

Angelini, P.; Di Battista, G.; Frati, F.; Jelínek, V.; Kratochvíl, J.; Patrignani, M.; Rutter, I.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Theoretische Informatik (ITI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-898716-98-6
KITopen-ID: 1000028360
Erschienen in Proceedings of the Twenty-First Annual ACM-SIAM Symposium on Discrete Algorithms. Ed.: M. Charikar
Verlag ACM, New York (NY)
Seiten 202-211
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