Testing Planarity of Partially Embedded Graphs

Angelini, P.; Di Battista, G.; Frati, F.; Jelínek, V.; Kratochvíl, J.; Patrignani, M.; Rutter, I.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Theoretische Informatik (ITI)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-0-898716-98-6 KITopen-ID: 1000028360
Erschienen in	Proceedings of the Twenty-First Annual ACM-SIAM Symposium on Discrete Algorithms. Ed.: M. Charikar
Verlag	Association for Computing Machinery (ACM)
Seiten	202-211