Quantitative analysis by electron transmission measurements in a scanning electron microscope
Müller, E.
; Volkenandt, T.; Hu, D. Z.; Schaadt, D. M.; Gerthsen, D.
; Volkenandt, T.; Hu, D. Z.; Schaadt, D. M.; Gerthsen, D.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1431-9276, 1435-8115 KITopen-ID: 1000028403 |
| Erschienen in | Microscopy and microanalysis |
| Verlag | Cambridge University Press (CUP) |
| Band | 16 |
| Heft | S2 |
| Seiten | 612-613 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |