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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1017/S1431927610056151

Quantitative analysis by electron transmission measurements in a scanning electron microscope

Müller, E.; Volkenandt, T.; Hu, D. Z.; Schaadt, D. M.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276, 1435-8115
KITopen-ID: 1000028403
Erschienen in Microscopy and microanalysis
Band 16
Heft S2
Seiten 612-613
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