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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1017/S1431927610000292
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Web of Science
Zitationen: 10

Quantification of Sample Thickness and In-Concentration of InGaAs Quantum Wells by Transmission Measurements in a Scanning Electron Microscope

Volkenandt, T.; Müller, E.; Hu, D. Z.; Schaadt, D. M.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276
KITopen-ID: 1000028406
Erschienen in Microscopy and Microanalysis
Band 16
Heft 5
Seiten 604-613
Nachgewiesen in Web of Science
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