Quantification of the In concentration of InGaAs quantum wells by transmission measurements in a scanning electron microscope
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-85125-062-6 KITopen-ID: 1000028479 |
| Erschienen in | MC 2009 - Proceedings of the Microscopy Conference, Graz, Austria, 30 August - 4 September 2009; Vol. 1. Ed.: G. Kothleitner |
| Verlag | Verl. der Techn. Univ. |
| Seiten | 159-160 |