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Quantification of the In concentration of InGaAs quantum wells by transmission measurements in a scanning electron microscope

Volkenandt, T.; Müller, E.; Gerthsen, D.; Hu, D. Z.; Schaadt, D. M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-85125-062-6
KITopen ID: 1000028479
Erschienen in MC 2009 - Proceedings of the Microscopy Conference, Graz, Austria, 30 August - 4 September 2009; Vol. 1. Ed.: G. Kothleitner
Verlag Verl. der Techn. Univ., Graz
Seiten 159-160
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