Using Booleansatisfiability for computingsofterrorrates in early design stages
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0026-2714 KITopen-ID: 1000028624 |
| Erschienen in | Microelectronics Reliability |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 50 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 149-159 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus Dimensions |