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Using Booleansatisfiability for computingsofterrorrates in early design stages

Tahoori, M. B.; Shazli, S.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.microrel.2009.08.006
Scopus
Zitationen: 29
Web of Science
Zitationen: 23
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0026-2714
KITopen-ID: 1000028624
Erschienen in Microelectronics Reliability
Band 50
Heft 1
Seiten 149-159
Nachgewiesen in Web of Science
Scopus
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