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Hübsch, C.; Waldhorst, O. P.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Telematik (TM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4577-1824-3
KITopen-ID: 1000028660
Erschienen in IEEE ICON 2011, Singapore, Singapore, Dezember 2011 Ed.: B. Veeravalli
Verlag IEEE Computer Society
Seiten 159-164
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