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Scenario Reliability Assessment to Support Decision Makers in Situations of Severe Uncertainty

Comes, Tina; Schultmann, Frank ORCID iD icon; Wijngaards, Niek; Maule, John; Allen, David


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industriebetriebslehre und Industrielle Produktion (IIP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-0343-9
KITopen-ID: 1000028863
Erschienen in IEEE International Multi-Disciplinary Conference on Cognitive Methods in Situation Awareness and Decision Support (CogSIMA 2012), New Orleans, LA, USA, March 6-8, 2012
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 60-67
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