Characterization of the Microstructure of Al-rich TiAl-Alloys by Combined TEM Imaging Techniques

Kelm, K.; Irsen, S.; Paninski, M.; A. Drevermann; Schmitz, G. J.; Palm, M.; Stein, F.; Heilmaier, M.; Engberding, N.; Saage, H.; Sturm, D.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2007
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 1431-9276 KITopen-ID: 1000029249
Erschienen in	Microscopy and Microanalysis
Verlag	Cambridge University Press (CUP)
Band	13
Heft	S03
Seiten	294-295