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Characterization of the Microstructure of Al-rich TiAl-Alloys by Combined TEM Imaging Techniques

Kelm, K.; Irsen, S.; Paninski, M.; A. Drevermann,; Schmitz, G. J.; Palm, M.; Stein, F.; Heilmaier, M.; Engberding, N.; Saage, H.; Sturm, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276
KITopen ID: 1000029249
Erschienen in Microscopy and Microanalysis
Band 13
Heft S03
Seiten 294-295
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