KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Integration von Funktionsprüfung und dimensioneller Messtechnik zu einer optimierten Qualitätssicherungsstrategie für Mikroverzahnungen

Albers, A.; Lanza, G.; Becke, C.; Viering, B.; Sadowski, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2011
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-8440-0358-1
KITopen ID: 1000029666
Erschienen in Neue Strategien der Mess- und Prüftechnik für die Produktion von Mikrosystemen und Nanostrukturen: Abschlussbericht DFG-Schwerpunktprogramm 1159 StraMNano. Hrsg.: A. Weckenmann
Verlag Shaker, Aachen
Seiten 5-18
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page