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Automatische Sichtprüfung: Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung

Beyerer, Jürgen; Puente Leon, Fernando; Frese, Christian


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Buch
Publikationsjahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-642-23965-6
KITopen-ID: 1000029873
Verlag Springer-Verlag
Umfang 700 S.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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