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Automatische Sichtprüfung: Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung

Beyerer, Jürgen; Puente Leon, Fernando; Frese, Christian



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Buch
Jahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-642-23965-6
KITopen ID: 1000029873
Verlag Springer, Berlin
Umfang 700 S.
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