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Onto Bayes: An Ontology-Driven Uncertainty Model

Yang, Y.; Calmet, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kryptographie und Sicherheit (IKS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 0-7695-2504-0-01
KITopen ID: 1000029948
Erschienen in Proceeding CIMCA '05 Proceedings of the International Conference on Computational Intelligence for Modelling, Control and Automation and International Conference on Intelligent Agents, Web Technologies and Internet Commerce
Verlag IEEE Computer Society, Washington
Seiten 457 - 463
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