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Low-energy electron scattering in carbon-based materials analyzed by scanning transmission electron microscopy and its application to sample thickness determination

Pfaff, M. 1,2; Müller, E. 1; Klein, M. F. G. 3; Colsmann, A. 3; Lemmer, U. 3; Krzyzanek, V.; Reichelt, R.; Gerthsen, D. 1
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Center for Functional Nanostructures (CFN), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Lichttechnisches Institut (LTI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1111/j.1365-2818.2010.03475.x
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Zugehörige Institution(en) am KIT Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Lichttechnisches Institut (LTI)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-2720
KITopen-ID: 1000030076
Erschienen in Journal of Microscopy
Verlag John Wiley and Sons
Band 243
Heft 1
Seiten 31-39
Nachgewiesen in Dimensions
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