Low-energy electron scattering in carbon-based materials analyzed by scanning transmission electron microscopy and its application to sample thickness determination
Pfaff, M. 1,2; Müller, E.
1; Klein, M. F. G. 3; Colsmann, A.
3; Lemmer, U. 3; Krzyzanek, V.; Reichelt, R.; Gerthsen, D. 1
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Center for Functional Nanostructures (CFN), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Lichttechnisches Institut (LTI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Klein, M. F. G. 3; Colsmann, A.
3; Lemmer, U. 3; Krzyzanek, V.; Reichelt, R.; Gerthsen, D. 11 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Center for Functional Nanostructures (CFN), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Lichttechnisches Institut (LTI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen) Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP) Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Lichttechnisches Institut (LTI) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0022-2720 KITopen-ID: 1000030076 |
| Erschienen in | Journal of Microscopy |
| Verlag | John Wiley and Sons |
| Band | 243 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 31-39 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |