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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1111/j.1365-2818.2010.03475.x
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Low-energy electron scattering in carbon-based materials analyzed by scanning transmission electron microscopy and its application to sample thickness determination

Pfaff, M.; Müller, E.; Klein, M. F. G.; Colsmann, A.; Lemmer, U.; Krzyzanek, V.; Reichelt, R.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-2720
KITopen ID: 1000030076
Erschienen in Journal of Microscopy
Band 243
Heft 1
Seiten 31-39
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