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Beneficial Use of a Virtual Reference Electrode for the Determination of SOC Dependent Half Cell Potentials

Schmidt, J. P.; Richter, J.; Klotz, D.; Ivers-Tiffée, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik (IWE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1938-6737
KITopen ID: 1000030135
Erschienen in ECS Transactions
Band 41
Heft 14
Seiten 1-8
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