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FGTMR - Fine Grain Redundancy Method for Reconfigurable Architectures under high Failure Rates

Niknahad, M.; Sandery, O.; Becker, J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4577-0793-3
KITopen-ID: 1000030327
Erschienen in The 16th North-East Asia Symposium on Nano, Information Technology and Reliability (NASNIT'11), Macao, China, October 24-26 2011, Ed.: H. Chi Tin
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 186 - 191
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