KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

FGTMR - Fine Grain Redundancy Method for Reconfigurable Architectures under high Failure Rates

Niknahad, M.; Sandery, O.; Becker, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4577-0793-3
KITopen-ID: 1000030327
Erschienen in The 16th North-East Asia Symposium on Nano, Information Technology and Reliability (NASNIT'11), Macao, China, October 24-26 2011, Ed.: H. Chi Tin
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 186 - 191
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page