FGTMR - Fine Grain Redundancy Method for Reconfigurable Architectures under high Failure Rates
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4577-0793-3 KITopen-ID: 1000030327 |
| Erschienen in | The 16th North-East Asia Symposium on Nano, Information Technology and Reliability (NASNIT'11), Macao, China, October 24-26 2011, Ed.: H. Chi Tin |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 186 - 191 |