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A study on fine granular fault tolerance methodologies for FPGAs

Niknahad, M.; Sandery, O.; Becker, J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4577-0640-0
KITopen-ID: 1000030330
Erschienen in Proceedings of the 6th International Workshop on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC'11), Montpellier, France, June 20-22, 2011. Ed.: L. S. Indrusiak
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1-5
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