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TagMark: Reliable Estimations of RFID Tags for Business Processes

Chaves, L.; Weiss, F.; Buchmann, E.; Böhm, K.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-60558-193-4
KITopen ID: 1000030471
Erschienen in Proceedings of the 14th International Conference on Knowledge Discovery and Data Mining (KDD'08), 2008
Verlag ACM, New York
Seiten 999 - 1007
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