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Automated test-case generation by cloning

Landhäußer, Mathias; Tichy, Walter F.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IWAST.2012.6228995
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Zitationen: 4
Seitenaufrufe: 11
seit 28.04.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-146731822-8
KITopen-ID: 1000030502
Erschienen in 7th International Workshop on Automation of Software Test (AST 2012) : Zurich, Switzerland, 2 - 3 June 2012. Ed.: D. Hoffman
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 83-88
Nachgewiesen in Scopus
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