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Automated test-case generation by cloning

Landhäußer, Mathias; Tichy, Walter F.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IWAST.2012.6228995
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Zitationen: 7
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Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-146731822-8
KITopen-ID: 1000030502
Erschienen in 7th International Workshop on Automation of Software Test (AST 2012) : Zurich, Switzerland, 2 - 3 June 2012. Ed.: D. Hoffman
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 83-88
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