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Test-Driven Assessment of Access Control in Legacy Applications

Le Traon, Y.; Mouelhi, T.; Pretschner, A.; Baudry, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-7695-3127-4
KITopen ID: 1000030556
Erschienen in Proc. 1st International Conference on Software Testing, Verification, and Validation (ICST)
Verlag IEEE Computer Society, Los Alamitos
Seiten 238 - 247
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