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Feature-specific illumination patterns for automated visual inspection

Gruna, R.; Beyerer, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4577-1773-4
KITopen ID: 1000030624
Erschienen in IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) Proceedings
Verlag IEEE Computer Society, Washington
Seiten 360 - 365
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