Feature-specific illumination patterns for automated visual inspection
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4577-1773-4 KITopen-ID: 1000030624 |
| Erschienen in | IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) Proceedings |
| Verlag | IEEE Computer Society |
| Seiten | 360 - 365 |