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Materialidentifikation mittels optisch realisierter Kreuzkorrelation der reflektanzspektren

Taphanel, M.; Gruna, R.; Beyerer, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0171-8096
KITopen ID: 1000030625
Erschienen in tm - Technisches Messen
Band 79
Heft 4
Seiten 202-209
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