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Inspektion spiegelnder Oberflächen mit Wavelet-basierten Verfahren

Ziebarth, Mathias; Le, Tan-Toan; Greiner, Thomas; Heizmann, Michael

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Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000030440
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-86644-927-5
urn:nbn:de:swb:90-308108
KITopen-ID: 1000030810
Erschienen in Forum Bildverarbeitung 2012. Hrsg. F. Puente León
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Seiten 167-180
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