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Planungsbasierte Oberflächeninspektion in der Deflektometrie bei gegebener Referenzfläche mittels Greedy-Optimierung

Roschani, M.; Beyerer, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-8440-1312-2
KITopen ID: 1000031135
Erschienen in XXVI. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V. 20.-22. September 2012 in Aachen. Hrsg.: R. Schmitt
Verlag Sharker, Aachen
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