Thermal-aware lifetime reliability in multicore systems
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4244-6455-5 KITopen-ID: 1000031461 |
| Erschienen in | IEEE International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), San Jose, CA, USA, March 22-24, 2010 |
| Verlag | IEEE Computer Society |
| Seiten | 399-405 |