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Worst-case temperature analysis for real-time systems

Thiele, L.; Bacivarov, I.; Chen, J. J.; Rai, D.; Yang, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-61284-208-0
KITopen ID: 1000031553
Erschienen in IEEE Conference of Design, Automation, and Test in Europe (DATE), Mar. 14-18, Grenoble, France, 2011
Verlag IEEE Computer Society, Washington
Seiten 1-6
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