KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Worst-case temperature analysis for real-time systems

Thiele, L.; Bacivarov, I.; Chen, J. J.; Rai, D.; Yang, H.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-61284-208-0
KITopen-ID: 1000031553
Erschienen in IEEE Conference of Design, Automation, and Test in Europe (DATE), Mar. 14-18, Grenoble, France, 2011
Verlag IEEE Computer Society
Seiten 1-6
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page