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XXV. Messtechnisches Symposium

Leon, F. P.; Beyerer, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0340-837X
KITopen ID: 1000031581
Erschienen in Technisches Messen
Band 79
Heft 4
Seiten 187-188
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