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XXV. Messtechnisches Symposium

Puente León, Fernando; Beyerer, J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0340-837X
KITopen-ID: 1000031581
Erschienen in Technisches Messen
Verlag De Gruyter
Band 79
Heft 4
Seiten 187-188
Nachgewiesen in Web of Science
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