KIT | KIT-Bibliothek | Impressum
Open Access Logo
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.phpro.2012.06.154

Investigation of dielectric losses in hydrogenated amorphous silicon (a-Si:H) thin films using superconducting microwave resonators

Bruno, A.; Skacel, S. T.; Kaiser, Ch.; Wünsch, S.; Siegel, M.; Ustinov, A. V.; Lisitskiy, M. P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1875-3884
KITopen ID: 1000031600
Erschienen in Physics Procedia
Band 36
Seiten 245-249
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page