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Dependence of count rate on magnetic field in superconducting thin-film TaN single-photon detectors

Engel, A.; Schilling, A.; Il'in, K.; Siegel, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen ID: 1000031601
Erschienen in Physical Review B
Band 86
Heft 14
Seiten 140506R/1-4
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