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Critical current densities in ultra-thin Ba(Fe,Co)2As2 microbridges

Rall, D.; Il'in, K.; Ida, K.; Haindl, S.; Kurth, F.; Thersleff, T.; Schultz, L.; Holzapfel, B.; Siegel, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0163-1829, 0556-2805, 1094-1622, 1095-3795, 1098-0121, 1550-235X, 2469-9950, 2469-9969
KITopen-ID: 1000031925
Erschienen in Physical review / B
Band 83
Heft 13
Seiten 134514/1-6
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