A Fault Tolerant Approach to Detect Transient Faults in Microprocessors Based on a Non-Intrusive Reconfigurable Hardware
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0018-9499 KITopen-ID: 1000032364 |
| Erschienen in | IEEE Transactions on Nuclear Science |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 59 |
| Heft | 4 |
| Seiten | 1117-1124 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Dimensions Scopus Web of Science |