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A Fault Tolerant Approach to Detect Transient Faults in Microprocessors Based on a Non-Intrusive Reconfigurable Hardware

Azambuja, J. R.; Pagliarini, S.; Altieri, M.; Kastensmidt, F. L.; Huebner-Glaser, M.; Becker, J. 1; Foucard, G.; Velazco, R.
1 Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TNS.2012.2201750
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Zitationen: 28
Web of Science
Zitationen: 23
Dimensions
Zitationen: 25
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0018-9499
KITopen-ID: 1000032364
Erschienen in IEEE Transactions on Nuclear Science
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 59
Heft 4
Seiten 1117-1124
Nachgewiesen in Dimensions
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