KIT | KIT-Bibliothek | Impressum
Open Access Logo

A Fault Tolerant Approach to Detect Transient Faults in Microprocessors Based on a Non-Intrusive Reconfigurable Hardware

Azambuja, J. R.; Pagliarini, S.; Altieri, M.; Kastensmidt, F. L.; Huebner-Glaser, M.; Becker, J.; Foucard, G.; Velazco, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0018-9499
KITopen ID: 1000032364
Erschienen in IEEE Transactions on Nuclear Science
Band 59
Heft 4
Seiten 1117-1124
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page