Fine grain fault tolerance - A key to high reliability for FPGAs in space
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4577-0556-4 KITopen-ID: 1000032368 |
| Erschienen in | 2012 IEEE Aerospace Conference, Big Sky, Montana, USA, March 3-10, 2012 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 10 S. |