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Fine grain fault tolerance - A key to high reliability for FPGAs in space

Niknahad, M.; Sander, O.; Becker, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4577-0556-4
KITopen ID: 1000032368
Erschienen in 2012 IEEE Aerospace Conference, Big Sky, Montana, USA, March 3-10, 2012
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 10 S.
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